Wafer Prober (IMS-04) - PR899917-2380-P

19Tage

Teilnahmefrist13.05.2025 13:00 Uhr

Wafer Prober (IMS-04) Wafer Prober (IMS-04) 1 Stück Wafer Prober; Das IMS benötigt einen Wafer Prober, der die automatisierte experimentelle Prüfung von photonischen integrierten Schaltungen (PIC) und Bauelementen im Wafermaßstab ermöglicht. Automatisiertes Sondieren ist notwendig, um eine schnelle Charakterisierung einer großen Anzahl von PIC...

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Auftrag­geber

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Vergabe­nummer (des Auftraggebers)

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Vergabe-ID (bei evergabe.de)

3164787
19Tage

Teilnahmefrist13.05.2025 13:00 Uhr

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Ausführungsort (1)

  • 47057 Duisburg
    Finkenstraße 61, Nordrhein-Westfalen

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