Rasterkraftmikroskop (IIC-2024-0077)

0Tage

Angebotsfrist25.11.2024 11:00 Uhr

Ausgeschriebene Leistung

Art der Leistung: Beschaffung eines Rasterkraftmikroskops mit Subnanometer Auflösung (AFM); Menge und Umfang: Gegenstand dieses Verfahrens ist die Beschaffung eines Rasterkraftmikroskops mit; Subnanometer Auflösung (AFM) für den Fachbereich Physik der Freien Universität Berlin.; Ort der Leistung: Freie Universität Berlin; Abteilung II: Finanzen,...

Vergabeart

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Auftrag­geber

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Vergabe­nummer (des Auftraggebers)

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Vergabe-ID (bei evergabe.de)

3051605
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Ausführungsort (1)

  • 14195 Berlin
    Thielallee 38, Berlin

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