Rasterkraftmikroskop (AFM)

Angebotsfrist: abgelaufen(20.02.2025 11:00 Uhr)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums...

Vergabeart

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Auftrag­geber

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Vergabe­nummer (des Auftraggebers)

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Vergabe-ID (bei evergabe.de)

3109122
Angebotsfrist: abgelaufen(20.02.2025 11:00 Uhr)

Ausführungsort (1)

  • 57076 Siegen
    Adolf-Reichwein-Str. 2a, Nordrhein-Westfalen

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