Oberflächeninspektionssystem zur Defekterkennung auf Wafern (HHI-05) - PR880078-3220-P

16Tage

Teilnahmefrist11.03.2025 12:00 Uhr

Ausgeschriebene Leistung

Oberflächeninspektionssystem zur Defekterkennung auf Wafern (HHI-05) Surface inspection system for defect detection on wafers 1 Stück Oberflächeninspektionssystem zur Defekterkennung auf Wafern.; Oberflächen Inspektionssystem zur schnellen Erkennung von Defekten auf epitaktischen (unstrukturierten) Wafern. Das System soll die Defekttypen...

Vergabeart

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Auftrag­geber

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Vergabe­nummer (des Auftraggebers)

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Vergabe-ID (bei evergabe.de)

3121111
16Tage

Teilnahmefrist11.03.2025 12:00 Uhr

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Ausführungsort (1)

  • 10587 Berlin
    Einsteinufer 37, Berlin

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