Atomic Force Microscope (AFM)

5Tage

Angebotsfrist28.11.2024 12:00 Uhr

Ausgeschriebene Leistung

Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Untersuchung von photonischen Schaltkreisen bis hin zu supraleitenden Quantenschaltkreisen. siehe Leistungsbeschreibung.

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Auftrag­geber

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Vergabe­nummer (des Auftraggebers)

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Vergabe-ID (bei evergabe.de)

3065033
5Tage

Angebotsfrist28.11.2024 12:00 Uhr

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Ausführungsort (1)

  • 85748 Garching bei München
    Walther-Meissner-Str. 8, Bayern

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