200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing - PR874550

11Tage

Angebotsfrist06.03.2025 12:00 Uhr

Ausgeschriebene Leistung

200 mm Wafer Prober incl. Temperature Testing 1 piece.; This specification describes the requirements for a wafer probing system to be used for characterization and test engineering for sensor ICs at the Fraunhofer IIS. The system must allow handling of 200 mm and 300 mm wafers. The focus in the usage of the machine does not depend on short...

Vergabeart

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Auftrag­geber

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Vergabe­nummer (des Auftraggebers)

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Vergabe-ID (bei evergabe.de)

3117542
11Tage

Angebotsfrist06.03.2025 12:00 Uhr

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Ausführungsort (1)

  • 91058 Erlangen
    Am Wolfsmantel 33, Bayern

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